RIE-200 利用电容耦合等离子体 (CCP) 激活的反应性离子刻蚀 (RIE) 装置

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本装置为基于电容耦合等离子体 (CCP) 技术的反应离子刻蚀系统,可实现高选择性、低温干法刻蚀工艺,适配复杂基片的蚀刻需求,具备全自动 CCP 阻抗匹配系统,可通过丰富选项拓展设备功能。


  • 核心特征:刻蚀工艺中的高选择性、工艺中的低温度、干蚀刻工艺、氮气 (N₂) 填充系统、可进行复杂基片的蚀刻、全自动 CCP 阻抗匹配系统

  • 附加功能 / 选项:激光干涉仪在微纳加工中的应用、集成到洁净室、液体试剂供给系统、光学发射光谱、基片的静电夹持、单波长光学或者宽带光学控制系统、向基片底部供应氦气 (He) 的热稳定系统、有射频偏压的基片支架 (可调整等离子体能谱)、恒温器、额外的气体管线、衬底低温冷却系统、用于加热室壁和管道的加热系统、用于中和有毒 / 可燃 / 爆炸性气体的洗涤器、气体中和柜、带自动衬底装载机制的加载锁真空室


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